OMICRON electronics

Ramping permet de générer des rampes d’amplitude, de phase ou de fréquence pour les sorties de courants et de tensions. Il permet de déterminer des valeurs limites ou de seuil, comme par exemple la valeur minimale de seuils de déclenchement ou l’hystérésis de commutation.

On peut effectuer des tests automatiques avec des rampes permettant le test de fonctions simples ou complexes. La souplesse de ce module permet de définir deux rampes synchrones simultanées de variables et de fonctions différentes, avec un maximum de cinq segments successifs chacune. 

Caractéristiques

• Test automatisé avec séquences de rampes
• Rampes simultanées pour deux variables et fonctions indépendantes (par ex. V/Hz)
• Définition d’un maximum de cinq segments de rampe successifs
• Contrôle visuel des valeurs de sortie (vue temporelle)
• Affichage des résultats de test avec évaluation automatique
• Fonction de répétition des tests avec calculs statistiques
• Calculs de rapports de deux valeurs de rampes, par ex. rapport de dégagement
• Fonction unique “pas à pas arrière” permettant des tests rapides et précis
• Évaluation automatique des résultats

Applications courantes

• Test de réglages de seuils et de valeurs de retombée
• Évaluation du rapport de dégagement